HIOKI阻抗分析儀IM357
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簡介：HIOKI阻抗分析儀IM357。1臺IM3570即可進行LCR、DCR測量和掃描測量。而且和HIOKI以往的LCR測試儀相比，大幅縮短了測量時間，進一步提高了測量精度。 阻抗分析儀是以讓測量頻率和測量電壓連續變化的同時，掃描測量被測物的特性...
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- 產品介紹
HIOKI阻抗分析儀IM357。1臺IM3570即可進行LCR、DCR測量和掃描測量。而且和HIOKI以往的LCR測試儀相比，大幅縮短了測量時間，進一步提高了測量精度。 阻抗分析儀是以讓測量頻率和測量電壓連續變化的同時，掃描測量被測物的特性為主要功能。可用于如線圈、變壓器、電容、壓電元件的開發和檢查等用途中。因此，阻抗分析儀對于復蘇中的電子零部件市場，可以說是不可欠缺的測量儀器。
※阻抗：交流電路中電流不容易流通的程度。單位為Ω。
HIOKI阻抗分析儀IM357產品的特點
1.不同測量條件下，1臺進行高速測量
測量電容等零部件時，有時在不同條件下(頻率、電平)測量多種測量項目，1條生產線中需要多臺測量儀器。IM3570可再不同測量條件下進行高速連續測量，1臺儀器即可滿足所有要求。
2.檢查速度提高了2倍(跟以往型號相比)
和HIOKI的以往型號(3532-50)相比，大大縮短了測量時間。LCR模式下，以往機型一般需要5ms的測量時間，而IM3570的檢查速度提高了2倍。需要全數檢查電子零部件的生產線中，IM3570發揮了作用。
3.測量的反復精度提高了1位(※1mΩ，100次測量時)
功能性高分子電容在推進低ESR化的同時，要求正確測量多個mΩ。IM3570在測量低阻抗時的精度比以往機型提高了1位，因此為用戶提供穩定測量。
4.廣范圍的測量頻率
5.15種測量參數
可測量Z、Y等15種參數，并將需要的參數讀取至計算機中。
6.具備防止誤操作的接觸檢查功能
裝載了4端子測量、2端子測量的接觸檢查功能。防止在測量電極不接觸被測物的狀態下測量的情況，因此可以避免出現未檢查的產品出廠。
7.廣范圍的測量電壓/電流
外加一般的開路信號發生，可在恒壓/恒流模式下進行考慮到電壓/電流依存性的測量。可設置廣范圍的、5mV~5V/10μA~50mA(~1MHz)以下的測量信號電平。
8.8. 測試線可延長至4m
4端子的構造可降低測試線的影響，測試線長達4m仍可保證精度。從而便于自動設備的配線。
HIOKI阻抗分析儀IM357技術參數：
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